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    Titel :

    Rauheitsstruktur im Schichtwachstum beruehrungslos messen


    Weitere Titelangaben:

    Non contact measurements of the roughness structure during layer growth.



    Erschienen in:

    Met.-Oberflaeche ; 48 , 10 ; 750-754


    Erscheinungsdatum :

    1994


    Format / Umfang :

    5 pages


    Anmerkungen:

    Met.-Oberflaeche;48(1994)10;750-754


    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch



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