Strahlenanalytisches Charakterisieren von Oberflaechen und duennen Schichten
Characterization of surfaces and thin layers by analytic beams.
Met.-Oberflaeche ; 47 , 11 ; 562-569
1993
8 pages
Met.-Oberflaeche;47(1993)11;562-569
Aufsatz (Zeitschrift)
Deutsch
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