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    Titel :

    Strahlenanalytisches Charakterisieren von Oberflaechen und duennen Schichten


    Weitere Titelangaben:

    Characterization of surfaces and thin layers by analytic beams.


    Beteiligte:
    Wetzig,K. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Met.-Oberflaeche ; 47 , 11 ; 562-569


    Erscheinungsdatum :

    1993


    Format / Umfang :

    8 pages


    Anmerkungen:

    Met.-Oberflaeche;47(1993)11;562-569


    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch



    Tiefer blicken : galvanische Schichten besser charakterisieren

    Roessiger,V. / Helmut Fischer,Sindelfingen,DE | Kraftfahrwesen | 2003


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