Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Komplizierte Mehrschichtsysteme analysieren - Schichtdickenbestimmung mittels Roentgenfluoreszenzanalyse


    Weitere Titelangaben:

    Complicated multilayer systems analyze - layer thickness determination using X ray fluorescence analysis.



    Erschienen in:

    Oberflaeche JOT ; 55 , 4 ; 18-19


    Erscheinungsdatum :

    2015


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    Oberflaeche JOT;55(2015)4 Special Kombinierte Oberflaechen ;18-19


    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch



    Bestimmung von Elementen in Mineraloelprodukten mittels Roentgenfluoreszenzanalyse ( RFA )

    Bartl,P. / Eckert,J. / Hormann,B. et al. | Kraftfahrwesen | 2004


    Komplizierte Compliance

    Boecker, Eckhard | IuD Bahn | 2008


    Komplizierte Trauer

    Znoj, Hansjörg | GWLB - Gottfried Wilhelm Leibniz Bibliothek | 2004


    Komplizierte Entwicklungsarbeit an Mehrbereichskerzen

    Champion,Bruessel,BE | Kraftfahrwesen | 1976


    Analysieren einer Umgebung eines Kraftfahrzeugs mittels Kameramodul

    WILHELM FREDERIC | Europäisches Patentamt | 2024

    Freier Zugriff