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    Titel :

    Durchgaengige Systemtests - von der virtuellen Integration bis zum Verbundtest


    Weitere Titelangaben:

    Integrated system tests - from vintegration to compound test.



    Erschienen in:

    ATZ elektronik ; 3 , 6 ; 52-56


    Erscheinungsdatum :

    2008


    Format / Umfang :

    5 pages


    Anmerkungen:

    ATZ elektronik;3(2008)6 ;52-56


    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch



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