Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Elektronenmikroskopische und Rastersonden Untersuchungen des Verschleissschutzes durch Reaktionsschichten in langsam laufenden Waelzlagern


    Weitere Titelangaben:

    Electron microscopy and screen probe investigations of wear protection by reaction layers in low speed antifriction bearings.


    Beteiligte:
    Reichelt,M. (Autor:in) / Weirich,T. (Autor:in) / Richter,S. (Autor:in) / Aretz,A. (Autor:in) / Tech.Hochsch.Aachen,DE


    Erscheinungsdatum :

    2005


    Format / Umfang :

    6 pages


    Anmerkungen:

    Tribol.u.Schmier.-Tech.,vormals Schmiert./Trib;52(2005)2 ;18-23


    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch