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    Titel :

    Characterization of an Optical Moiré Wall Shear Stress Sensor for Harsh Environments


    Beteiligte:
    Mills, David A. (Autor:in) / Chen, Tai-An (Autor:in) / Sheplak, Mark (Autor:in)

    Kongress:

    53rd AIAA Aerospace Sciences Meeting



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2015




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch




    Characterization of an Optical Moiré Wall Shear Stress Sensor for Harsh Environments (AIAA 2015-1917)

    Mills, David A. / Chen, Tai-An / Sheplak, Mark | British Library Conference Proceedings | 2015


    Color Moiré Interferometry for Shear Stress Sensor Application

    Chen, Tzong / Horowitz, Stephen / Chen, Tai et al. | AIAA | 2007


    Color Moire Interferometry for Shear Stress Sensor Application AIAA Paper

    Chen, T. / Horowitz, S. / Sheplak, M. et al. | British Library Conference Proceedings | 2007


    A Micromachined Geometric Moiré Interferometric Floating-Element Shear Stress Sensor

    Horowitz, Stephen / Chen, Tai-An / Chandrasekaran, Venkataraman et al. | AIAA | 2004


    OPTICAL MINIATURIZATION OF A MEMS-BASED FLOATING ELEMENT SHEAR STRESS SENSOR WITH MOIRE AMPLIFICATION

    Chen, T. / Mills, D. / Chandrasekharan, V. et al. | British Library Conference Proceedings | 2010