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    Titel :

    Agility Metric Robustness Using Linear Error Theory


    Autor / Urheber :

    David Smith, John Valasek


    Beteiligte:
    David Smith (Autor:in) / John Valasek (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2001-01-01


    Format / Umfang :

    12 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Agility Metric Robustness Using Linear Error Theory

    Smith, D. / Valasek, J. / AIAA | British Library Conference Proceedings | 1999


    Agility metric robustness using linear error theory

    Smith, David / Valasek, John | AIAA | 1999