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    Titel :

    Novel Method for Measurement of Total Hemispherical Emissivity


    Autor / Urheber :

    Saeed Moghaddam, John Lawler, Joseph Currano, Jungho Kim


    Beteiligte:
    Saeed Moghaddam (Autor:in) / John Lawler (Autor:in) / Joseph Currano (Autor:in) / Jungho Kim (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2007-01-01


    Format / Umfang :

    6 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Hemispherical emissivity by infrared reflectance

    del Pino, C. B. / van Eesbeek, M. / Rohr, T. et al. | British Library Conference Proceedings | 2005



    Measurement of Total Hemispherical Emittance at Cryogenic Temperatures

    Ohnishi, Akira / Furusawa, Tohru / Nagasaka, Yuji | SAE Technical Papers | 1996