Zugriff

    Zugriff prüfen

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Diffraction and Refraction in Plasma Diagnostics via Microwave Probing


    Beteiligte:
    Shang, Joseph (Autor:in)

    Kongress:

    43rd AIAA Aerospace Sciences Meeting and Exhibit



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2005




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch




    Diffraction and Refraction in Plasma Diagnostics via Microwave Probing

    Shang, J. S. / American Institute of Aeronautics and Astronautics | British Library Conference Proceedings | 2005



    Simulating Microwave Radiation for Plasma Diagnostics

    Shang, J. S. / AIAA | British Library Conference Proceedings | 2004


    A microwave lens system for plasma diagnostics

    Bitzer, R. A. / Holt, E. H. | TIBKAT | 1965


    Annotated bibliography on combined wave refraction and diffraction

    Lui, Philip L. -F. / Boissevain, Polly L. / Ebersole, Bruce A. et al. | HENRY – Bundesanstalt für Wasserbau (BAW) | 1986

    Freier Zugriff