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    Titel :

    In-Situ Fatigue Crack Growth Testing of Al7075-T651 under Scanning Electron Microscopy


    Beteiligte:
    Zhang, Wei (Autor:in) / Liu, Yongming (Autor:in)

    Kongress:

    52nd AIAA/ASME/ASCE/AHS/ASC Structures, Structural Dynamics and Materials Conference



    Erscheinungsdatum :

    2011-01-01



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    In-Situ Fatigue Crack Growth Testing of Al7075-T651 under Scanning Electron Microscopy

    Zhang, W. / Liu, Y. / American Institute of Aeronautics and Astronautics | British Library Conference Proceedings | 2011


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    Payne, Joel / Welsh, Greg / Christ, Robert J. jun. et al. | Tema Archiv | 2010


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    Nürnberger, Florian | TIB AV-Portal | 2022


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    Sankararaman, S. / Ling, Y. / Shantz, C. et al. | British Library Conference Proceedings | 2010


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    Sankararaman, Shankar / Ling, You / Shantz, Chris et al. | AIAA | 2010