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    Titel :

    System for the Measurement of Spectral Emittance at High Temperature


    Autor / Urheber :

    James 0. Hylton and Robert L. Reid


    Beteiligte:
    James 0. Hylton (Autor:in) / Robert L. Reid (Autor:in)

    Erschienen in:

    AIAA Journal ; 14 , 9 ; 1303-1310


    Erscheinungsdatum :

    1976




    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch




    Low-Temperature Spectral Emittance Measurements

    Heller, Gerhard B. | AIAA | 1966



    High-temperature, normal spectral emittance of silicon carbide basedmaterials

    POSTLETHWAIT, MICHAEL / SIKKA, KAMAL / MODEST, MICHAEL | AIAA | 1993


    High Temperature Normal Spectral Emittance of Silicon Carbide Based Materials

    Postlewait, M. A. / Sikka, K. K. / Modest, M. F. et al. | British Library Conference Proceedings | 1993