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    Titel :

    Contamination effects and resolutions on the GOES thermal control system


    Beteiligte:
    Chen, Philip (Autor:in) / Hedgeland, Randy (Autor:in)

    Kongress:

    34th Aerospace Sciences Meeting and Exhibit ; 1996 ; Reno , NV , U.S.A.



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1996



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch






    Validating GOES Instrument Thermal Deformations

    Harter, Peter / Ghaffarian, Benny / Ng, Ray et al. | NTRS | 2001



    Lunar Dust Contamination Effects on Lunar Base Thermal Control Systems

    Keller, John R. / Ewert, Michael K. | SAE Technical Papers | 2000