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    Titel :

    Switch-level testability analysis for CMOS circuits


    Beteiligte:
    CIRIT, MEHMET (Autor:in)

    Kongress:

    Digital Avionics Systems Conference ; 1988 ; San Jose , CA , U.S.A.



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1988



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch




    Method of testability evaluation using hierarchical testability model

    Yin, Yuanwei / Shang, Chaoxuan / Ma, Yanheng et al. | British Library Online Contents | 2015


    Testability integrated evaluation method based on testability virtual test data

    Liu, Guanjun / Zhao, Chenxu / Qiu, Jing et al. | Elsevier | 2014

    Freier Zugriff

    Design for Testability and Diagnosis at the System-Level

    United States; National Aeronautics and Space Administration / United States; Air Force / University of Houston-Clear Lake | British Library Conference Proceedings | 1992


    Extended Testability Analysis Tool User Guide

    Maul, W. / Fulton, C. / Melcher, K. et al. | British Library Conference Proceedings | 2011


    Extended Testability Analysis Tool User Guide

    Maul, William / Fulton, Christopher / Melcher, Kevin | AIAA | 2011