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    Titel :

    Measurement of film thickness of thin-film resistance thermometers.


    Autor / Urheber :

    MCCAA, D. J. /CORNELL AERONAUTICAL LAB., INC., HYPERSONIC FACILITIESDEPT., BUFFALO, N.Y./.


    Beteiligte:
    MCCAA, D. J. (Autor:in)

    Erschienen in:

    AIAA Journal ; 6 , 4 ; 747-748


    Erscheinungsdatum :

    1968-01-01


    Format / Umfang :

    2 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch