Zugriff

    Zugriff prüfen

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Modeling Radiative Properties of Silicon with Coatings and Comparison with Reflectance Measurements


    Autor / Urheber :

    Bong Jae Lee, Zhuomin Zhang, Edward Early, David DeWitt, Benjamin Tsai


    Beteiligte:
    Bong Jae Lee (Autor:in) / Zhuomin Zhang (Autor:in) / Edward Early (Autor:in) / David DeWitt (Autor:in) / Benjamin Tsai (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2005-01-01


    Format / Umfang :

    8 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch