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    Titel :

    Simulation-Assisted Risk Assessment


    Beteiligte:
    Lawrence, Scott (Autor:in) / Mathias, Donovan (Autor:in) / Klopfer, Goetz (Autor:in) / Pandya, Shishir (Autor:in) / Olsen, Michael (Autor:in) / Onufer, Jeffrey (Autor:in) / Holst, T. (Autor:in) / Gee, Ken (Autor:in)

    Kongress:

    44th AIAA Aerospace Sciences Meeting and Exhibit ; 2006 ; Reno , Nevada



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2006




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch




    >Simulation-Assisted Risk Assessment (AIAA 2006-0090)

    Lawrence, S. / Mathias, D. / Klopfer, G. et al. | British Library Conference Proceedings | 2006



    Simulation Assisted Risk Assessment Applied to Launch Vehicle Conceptual Design

    Mathias, Donovan L. / Go, Susie / Gee, Ken et al. | NTRS | 2008


    Risk Assessment Assisted by TiO2 Photocatalytic Oxidation

    Sager, John C. / Levine, Lanfang H. / Hintze, Paul E. et al. | SAE Technical Papers | 2008


    Risk Assessment Assisted by TiO~2 Photocatalytic Oxidation

    Rigdon, W.A. / Levine, L.H. / Hintze, P.E. et al. | British Library Conference Proceedings | 2008