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    Titel :

    Photogrammetric Recession Measurement of Ablative Materials During Arc-Jet Testing


    Beteiligte:
    Schairer, Edward (Autor:in) / Heineck, James (Autor:in)

    Kongress:

    45th AIAA Aerospace Sciences Meeting and Exhibit



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2007




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch




    Photogrammetric Recession Measurement of Ablative Materials During Arc-Jet Testing AIAA Paper

    Schairer, E. / Heineck, J. / American Institute of Aeronautics and Astronautics | British Library Conference Proceedings | 2007




    Laser Activated, Model Surface Recession Compensator System for Testing Ablative Materials

    RONALD A. WILLIAMSON / W. A. RINEHART / AND RONALD R. WILLIAMS McDonnell Douglas Research Laboratories | AIAA | 1973