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    Titel :

    Defektcharakterisierung von Halbleitermaterialien für die Photovoltaik


    Beteiligte:

    Erscheinungsdatum :

    2015


    Format / Umfang :

    165 Seiten


    Anmerkungen:

    Illustrationen


    Medientyp :

    Hochschulschrift


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch



    Klassifikation :

    BKL:    33.61 Festkörperphysik / 53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher / 35.48 Sonstige anorganische Elemente und ihre Verbindungen



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    Siemens Aktiengesellschaft, Forschungslaboratorien, Erlangen / Siemens Aktiengesellschaft, Forschungslaboratorium, München | TIBKAT | 1974


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    Physikalische Messverfahren zur Charakterisierung von Halbleitermaterialien

    Allgemeine Elektricitäts-Gesellschaft, AEG-Telefunken, Fachbereich Halbleiter | TIBKAT | 1976



    Photovoltaik

    Dr.-Ing. Schade, Diethard | Springer Verlag | 1995