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    Titel :

    Electrical characterisation of crystalline silicon thin-film material


    Beteiligte:

    Erschienen in:

    Ausgabe :

    1. Aufl.


    Erscheinungsdatum :

    2011


    Format / Umfang :

    II, 226 S.


    Anmerkungen:

    210 mm x 148 mm, 436 g
    Ill., graph. Darst.
    Mit engl. u. dt. Zsfassung
    Langzeitarchivierung durch Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek
    Langzeitarchivierung durch Universität Konstanz



    Medientyp :

    Hochschulschrift


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch , Deutsch


    Schlagwörter :

    Klassifikation :

    DDC:    530
    BKL:    33.68 Oberflächen, Dünne Schichten, Grenzflächen / 53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher