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    Titel :

    Schneller IR-Messplatz zur Charakterisierung von Solarzellen und Material : dünne Silizium-Wafer durch optimiertes Drahtsägen ; IR-Messplatz/DWS ; Schlussbericht für das Forschungsvorhaben ; Projektdauer: 01.09.2004 bis 31.05.2005



    Erscheinungsdatum :

    2005


    Format / Umfang :

    Online-Ressource (23 S., 959 KB)


    Anmerkungen:

    Ill., graph. Darst.
    Förderkennzeichen BMBF 0329969. - Literaturverz.
    Unterschiede zwischen dem gedruckten Dokument und der elektronischen Ressource können nicht ausgeschlossen werden
    Auch als gedr. Ausg. vorh.
    Langzeitarchivierung durch Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek



    Medientyp :

    Report


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Deutsch



    Klassifikation :

    BKL:    52.75 Spanende Materialbearbeitung / 53.56 Halbleitertechnologie / 53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher