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    Titel :

    Some metric considerations in pattern recognition


    Beteiligte:


    Erscheinungsdatum :

    1961


    Format / Umfang :

    44 S


    Anmerkungen:

    Ill., graph. Darst
    Langzeitarchivierung durch Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek


    Medientyp :

    Buch


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Pattern Recognition in a Metric Space

    Mottl, V. V. / Seredin, O. S. / Dvoenko, S. D. | British Library Online Contents | 2001