Entwicklung eines zeitraffenden Verfahrens zur Überprüfung der Lebensdauer/Zuverlässigkeit von elektronischen Bauelementen
Development of an accelerating test-method for lifetime/reliability of electronic components
1987
186 Bl
BMFT-FB Schlußbericht, Förderungskennzeichen: NT 2683 9. - Text dt. mit engl. Zsfassung
Report
Deutsch
Kühlvorrichtung zur Kühlung von elektronischen Bauelementen
Europäisches Patentamt | 2016
|Untersuchungen zur Lebensdauer und Zuverlässigkeit von Elektrofahrzeugen
DataCite | 2015
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