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    Titel :

    CORRELATING MULTICRYSTALLINE SILICON DEFECT TYPES USING PHOTOLUMINESCENCE, DEFECT-BAND EMISSION, AND LOCK-IN THERMOGRAPHY IMAGING TECHNIQUES


    Beteiligte:
    Johnston, Steve (Autor:in) / Guthrey, Harvey (Autor:in) / Yan, Fei (Autor:in) / Zaunbrecher, Katherine (Autor:in) / Al-Jassim, Mowafak (Autor:in) / Rakotoniaina, Pati (Autor:in) / Kaesto, Martin (Autor:in)

    Kongress:

    IEEE Photovoltaic Specialists Conference ; 39. ; 2013 ; Tampa, Fla.



    Erscheinungsdatum :

    2013



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Klassifikation :

    BKL:    52.56 Regenerative Energieformen, alternative Energieformen / 53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher