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    Titel :

    Machine-Learning-Assisted Characterization of Interfacial Failure in Solid-State Batteries


    Beteiligte:
    Zhu, Juner (Autor:in) / Li, Wei (Autor:in) / Singh, Avtar (Autor:in) / Finegan, Donal (Autor:in) / Martin, Trevor (Autor:in)

    Kongress:

    AIAA SciTech Forum ; 2023 ; National Harbor, Md.; Online



    Erscheinungsdatum :

    2023


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch