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    Titel :

    New approaches to reliability qualification of semiconductor components under varying and progressive stresses


    Beteiligte:
    Hirler, Alexander (Autor:in) / Deutschland, Bundeswehr (Grad-verleihende Institution) / Eric Cuvillier, Firma (Verlag)

    Ausgabe :

    1. Auflage


    Erscheinungsdatum :

    2021


    Format / Umfang :

    vi, 152 Seiten


    Anmerkungen:

    21 cm x 14.8 cm
    Diagramme, Illustrationen
    Literaturverzeichnis: Seite 137-146
    Langzeitarchivierung durch Gottfried Wilhelm Leibniz Bibliothek - Niedersächsische Landesbibliothek



    Medientyp :

    Hochschulschrift


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Klassifikation :

    BKL:    55.21 Kraftfahrzeuge / 53.51 Bauelemente der Elektronik



    Sequential environmental stresses tests qualification for automotive components

    Bahi, M.A. / Lecuyer, P. / Fremont, H. et al. | Tema Archiv | 2007


    Spacecraft reliability and qualification

    Douglas, W. H. / Mc Intosh, G. P. / Menear, L. S. | NTRS | 1966


    Qualification and Reliability Monitors

    SAE Technical Papers | 2014



    Reliability and qualification activities at ENEA

    Clarotti,C.A. / Puccini,M. / Serra,A. et al. | Kraftfahrwesen | 1988