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    Titel :

    Light and elevated Temperature Induced Degradation (LeTID) of the carrier lifetime in multicrystalline silicon


    Beteiligte:
    Bredemeier, Dennis (Autor:in) / Schmidt, Jan (Akademische:r Betreuer:in) / Pfnür, Herbert (Akademische:r Betreuer:in) / Weeber, Arthur (Akademische:r Betreuer:in) / Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover (Grad-verleihende Institution)

    Erscheinungsdatum :

    2020


    Format / Umfang :

    1 Online-Ressource (ix, 109 Seiten, 5248 KB)


    Anmerkungen:

    Langzeitarchivierung durch Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek



    Medientyp :

    Hochschulschrift


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Deutsch



    Klassifikation :

    BKL:    33.72 Halbleiterphysik / 33.68 Oberflächen, Dünne Schichten, Grenzflächen / 53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher
    DDC:    530.4175