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    Titel :

    Infrared imaging systems : design, analysis, modeling, and testing



    Kongress:

    SPIE Technical Symposium on Optical Engineering Photonics in Aerospace Sensing ; 1990 ; Orlando, Fla. SPIE Technical Symposium on Optical Engineering Photonics in Aerospace Sensing (Orlando, Fla.) : 1990.04.16-20
    Infrared Imaging Systems: design, analysis, modeling, and testing ; 1990 ; Orlando, Fla.
    Infrared Imaging Systems: design, analysis, modeling, and testing (Orlando, Fla.) : 1990.04.16-18



    Erscheinungsdatum :

    1990


    Format / Umfang :

    VII, 313 S


    Anmerkungen:

    Ill
    Part of two-conference program on Electro-Optic Analysis and Testing held at the SPIE Technical Symposium on Optical Engineering and Photonics in Aerospace Sensing, 16-20 April 1990, in Orlando, Florida
    Langzeitarchivierung durch Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek



    Medientyp :

    Konferenzband


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :

    Klassifikation :

    DDC:    621.36/72




    Laboratory testing of dithered infrared imaging systems

    Dawson, J.A. / Chambliss, M.A. / Kimbel, C.M. et al. | Tema Archiv | 1998


    Infrared systems - design and testing

    Sira Limited / Society of Photo-optical Instrumentation Engineers / Institution of Production Engineers (Great Britain) et al. | TIBKAT | 1988


    Chamber For Testing Infrared Imaging Detectors

    Staller, Craig O. / Capps, Richard W. / Butler, Douglas et al. | NTRS | 1992