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    Titel :

    Wavelet Signal Processing for Resolution Enhancement in a Recurrence Tracking Microscope


    Beteiligte:
    Akhtar, N. (Autor:in) / Ullah, H. (Autor:in) / Omari, A. (Autor:in) / Saif, F. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2017


    Format / Umfang :

    9 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3827



    Recurrence tracking microscope based on magnetic mirrors

    Saif, F. / Umar, M. | British Library Online Contents | 2013


    Recurrence Tracking Microscope: Nanoscanning Via Bose–Einstein Condensation

    Khan, H. / Saif, F. | British Library Online Contents | 2017


    Recurrence Tracking Microscope Based on Two Magnetic Mirrors

    Khan, H. / Umar, M. / Akram, M. J. et al. | British Library Online Contents | 2014


    Tracing Bose–Einstein condensate effects in a recurrence tracking microscope

    Khan, H. / Saif, F. | British Library Online Contents | 2011


    Ultrasonic Signal Processing Based on Wavelet Ridge

    Zhang, G. / Guan, M. / Wang, Y. et al | British Library Online Contents | 1999