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    Titel :

    Direct measurement of photo-induced nanoscale surface displacement in solids using atomic force microscopy


    Beteiligte:
    Souza, S.T. (Autor:in) / Fonseca, E.J.S. (Autor:in) / Jacinto, C. (Autor:in) / Astrath, N.G.C. (Autor:in) / Rodrigues, T.P. (Autor:in) / Malacarne, L.C. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2015


    Format / Umfang :

    4 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    535




    Atomic Force Acoustic Microscopy to Measure Nanoscale Mechanical Properties of Cement Pastes

    Kim, Jae Hong / Balogun, Oluwaseyi / Shah, Surendra P. | Transportation Research Record | 2010


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    Recknagel, R.-J. / Feigl, T. / Duparre, A. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998



    Comparison of roughness measurement with atomic force microscopy and interference microscopy [5188-49]

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