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    Titel :

    Characterization and Monitoring of Laser Linewidths in Coherent Systems


    Beteiligte:
    Chen, X. (Autor:in) / Al Amin, A. (Autor:in) / Shieh, S. (Autor:in)

    Erschienen in:

    JOURNAL OF LIGHTWAVE TECHNOLOGY ; 29 , 17 ; 2533-2537


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2011


    Format / Umfang :

    5 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3692



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