Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Experimental Characterization of Roughness Induced Scattering Losses in PECVD SiC Waveguides


    Beteiligte:
    Pandraud, G. (Autor:in) / Margallo-Balbas, E. (Autor:in) / Yang, C.-K. (Autor:in) / French, P.J. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2011


    Format / Umfang :

    6 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3692



    Characterization of PECVD oxynitride optical waveguides

    Ailing Zhang, / Kam Tai Chan, | IEEE | 2003


    Characterization of PECVD oxynitride optical waveguides

    Zhang, A. / Chan, K. T. / Guo li Taiwan da xue et al. | British Library Conference Proceedings | 2003


    Reduction of Hydrogen Induced Losses in PECVD-SiO~2Ny Optical Waveguides in the Near Infrared

    IEEE / Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1995