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    Titel :

    Profilometer advances benefit surface analysis, film-thickness measurement


    Beteiligte:
    Freischlad, K. (Autor:in)

    Erschienen in:

    LASER FOCUS WORLD ; 46 , 1 ; 77-81


    Erscheinungsdatum :

    2010-01-01


    Format / Umfang :

    5 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.366



    Measurement of Piston Deposit Thickness Using Laser Profilometer

    Satterfield, Andrew D. / Prabhakar, Bhaskar / Kaul, Brian C. et al. | SAE Technical Papers | 2022


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    Burcher, E. E. / Kelly, W. L., IV / Katzberg, S. J. | NTRS | 1977


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    Lu, Bing-hui / Zhang, Jian-long / Liu, Bing-guo et al. | SPIE | 2014


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