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    Titel :

    1D-based defect detection in patterned TFT-LCD panels using characteristic fractal dimension and correlations


    Beteiligte:
    Tsai, D. M. (Autor:in) / Chuang, S. T. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2009-01-01


    Format / Umfang :

    12 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    006.42



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