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    Titel :

    A microwave probe nanostructure for atomic force microscopy


    Beteiligte:
    Ju, Y. (Autor:in) / Hamada, M. (Autor:in) / Kobayashi, T. (Autor:in) / Soyama, H. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MICROSYSTEM TECHNOLOGIES ; 15 , 8 ; 1195-1199


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2009


    Format / Umfang :

    5 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    629.83





    Optical Microscopy, Atomic Force Microscopy (AFM) and SNOM

    Birmelin, M. | British Library Online Contents | 1998


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