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    Titel :

    Characterization of polycrystalline Ge thin films fabricated by short-pulse XeF excimer laser crystallization


    Beteiligte:
    Kuo, C. C. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2008


    Format / Umfang :

    9 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3827





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