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    Titel :

    C-Test: Offene Tester-Architektur erweitert Einsatzgebiet


    Erschienen in:

    ELEKTRONIK -MUNICH- ; 55 , 23 ; 30-31


    Erscheinungsdatum :

    2006-01-01


    Format / Umfang :

    2 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3





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