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    Titel :

    Controlling error sources yields nano-accurate interferometry


    Beteiligte:
    Haitjema, H. (Autor:in)

    Erschienen in:

    LASER FOCUS WORLD ; 41 , 12 ; 87-90


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2005


    Format / Umfang :

    4 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.366



    Sources of error in absolute distance interferometry [4420-01]

    Stone, J. A. / Stejskal, A. / Howard, L. P. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001


    Interferometry for Accurate Displacement Metrology

    Lawall, J. | British Library Online Contents | 2004


    Accurate Internal Camera Calibration Using Rotation, with Analysis of Sources of Error

    Stein, G. / IEEE Computer Society / Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence | British Library Conference Proceedings | 1995


    Optical sources for white light interferometry

    Brandenburg, I. / Raab, V. / Menzel, R. | IEEE | 2003