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    Titel :

    High speed sub-micron bit detection using tapered aperture mounted optical slider flying above a patterned metal medium


    Beteiligte:
    Ohkubo, T. (Autor:in) / Tanaka, K. (Autor:in) / Hirota, T. (Autor:in) / Itao, K. (Autor:in) / Kato, K. (Autor:in) / Ichihara, S. (Autor:in) / Ohmi, M. (Autor:in) / Maeda, H. (Autor:in) / Niwa, T. (Autor:in) / Mitsuoka, Y. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2003


    Format / Umfang :

    7 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    629.83





    Contact force detection on a minute aperture mounted optical contact slider using an acoustic emission sensor

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    Sub-100-nm ROM pattern readout using a triangular protruded aperture mounted optical head slider

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