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    Titel :

    Characterization of 3-D surface topography by root-mean-square wavelength


    Beteiligte:
    Li, C.-g. (Autor:in) / Li, X.-s. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2002


    Format / Umfang :

    4 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt


    Klassifikation :

    DDC:    629.4



    The root mean square current meter

    Hershberger, D.C. | Engineering Index Backfile | 1917


    Surface topography by wavelength scanning interferometry [3479-03]

    Yamaguchi, I. / Yamamoto, A. / Yano, M. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998