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    Titel :

    Submicron External Electro-Optic Measuring System Based on an Electro-Optic Solid Immersion Lens


    Beteiligte:
    Chen, Z. (Autor:in) / Jia, G. (Autor:in) / Liu, Y. (Autor:in) / Wu, Z. (Autor:in) / Zhao, C. (Autor:in) / Yi, M. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    2001-01-01


    Format / Umfang :

    8 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3612



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