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    Titel :

    Femtosecond X-Ray Diffraction


    Beteiligte:
    Cavalleri, A. (Autor:in) / Siders, C. W. (Autor:in) / Sokolowski-Tinten, K. (Autor:in) / Toth, C. (Autor:in) / Blome, C. (Autor:in) / Squier, J. A. (Autor:in) / von der Linde, D. (Autor:in) / Barty, C. P. J. (Autor:in) / Wilson, K. R. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2001


    Format / Umfang :

    6 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.36




    Femtosecond X-ray diffraction of structural changes in a semiconductor superlattice

    Bargheer, M. / Zhavoronkov, N. / Gritsai, Y. et al. | IEEE | 2004


    Femtosecond electron diffraction: an atomic level view of condensed phase dynamics

    Dwyer, J.R. / Jordan, R.E. / Hebeisen, C.T. et al. | IEEE | 2005


    Femtosecond Electron Diffraction: An Atomic-Level View of Condensed Phase Dynamics

    Dwyer, J. | British Library Conference Proceedings | 2005


    Coherent phonons in a semiconductor superlattice studied by femtosecond X-ray diffraction

    Bargheer, M. / Zhavoronkov, N. / Gritsai, Y. et al. | IEEE | 2005