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    Titel :

    Characterisation of ferroelectric thin films by X-ray diffraction and electron microscopy


    Beteiligte:
    Mengucci, P. (Autor:in) / De Benedittis, A. (Autor:in) / Di Cristoforo, A. (Autor:in) / Majni, G. (Autor:in) / Watts, B. E. (Autor:in) / Leccabue, F. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2000


    Format / Umfang :

    6 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    546




    Stress Effects in Ferroelectric Thin Films

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