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    Titel :

    Flight Usage of Microwave Transistor Life Test Samples


    Beteiligte:
    Fidler, R. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    1997-01-01


    Format / Umfang :

    8 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    500.5 / 387.8



    Flight Usage of Microwave Transistor Life Test Samples

    Fidler, R. / European Space Agency | British Library Conference Proceedings | 1997



    Life test of NiH2 flight battery

    Gandel, M. G. | NTRS | 1978