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    Titel :

    Optical Displacement Measurement with GaAs/AlGaAs-Based Monolithically Integrated Michelson Interferometers


    Beteiligte:
    Hofstetter, D. (Autor:in) / Zappe, H. P. (Autor:in) / Daendliker, R. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.1997


    Format / Umfang :

    8 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3692



    Monolithically integrated interferometer for optical displacement measurement [2695-50]

    Hofstetter, D. / Zappe, H. P. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 1996


    Noise suppression in a novel monolithically integrated Michelson Interferometer

    Moll, E. / Chai, Y.J. / Williams, K.A. et al. | IEEE | 2005



    Extinction ratio degradation on a 40 Gbit/s optical demultiplexer based on a monolithically integrated Michelson-interferometer

    Pieper, W. / Ludwig, R. / Weber, H. G. et al. | British Library Conference Proceedings | 1997


    Ultra-Short GaAs/AlGaAs Quantum-Cascade Micro-Lasers based on Monolithically Integrated Semiconductor-Air Bragg-Mirrors

    Institute of Electrical and Electronics Engineers | British Library Conference Proceedings | 2004