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    Titel :

    Electro-Optic Sampling System for the Testing of High-Speed Integrated Circuits Using a Free Running Solid-State Laser


    Beteiligte:
    Hofmann, R. (Autor:in) / Pfleiderer, H.-J. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.1996


    Format / Umfang :

    6 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3692



    Electro-Optic Sampling of Planar GaAs Circuits Using Semiconductor Laser

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1994


    Electro-optic sampling of planar GaAs circuits using semiconductor laser

    Wei Sun / Maobin Yi / Xiaojian Tian et al. | IEEE | 1994


    Waveform Sampling of Free-Running Frequency Prescaled Microwave Signals by Using Delay-Line-Free Electro-Optic Probing Technique

    Lin, G.-R. / Hung, S.-H. / Chang, Y.-C. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001



    Delay-line-free high-speed electro-optic sampler [4416-69]

    Lin, G.-R. / Chang, Y.-C. / Optical Society of Japan et al. | British Library Conference Proceedings | 2001