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    Titel :

    Millimeter Wave Complex Refractive Index, Complex Dielectric Permittivity and Loss Tangent of Extra High Purity and Compensated Silicon


    Beteiligte:
    Mohammed Nurul Afsar (Autor:in) / Chi, H. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1994


    Format / Umfang :

    1181 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt


    Klassifikation :

    DDC:    621.3612





    Millimeter-Wave Dielectric Permittivity of Glasses

    Chen, Shu / Nguyen, Kim N. / Afsar, Mohammed N. | IEEE | 2006


    New Measuring Apparatus for Complex Permittivity at Millimeter-Wave Frequencies

    Zhao, L. Q. / Chang, L. | British Library Online Contents | 2004


    Millimeter Wave Dielectric Permittivity Measurements of Common Materials

    Nguyen, K. N. / Chen, S. / Afsar, M. N. et al. | IEEE | 2006