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    Titel :

    Machine Vision Techniques for Semiconductor Wafer Alignment


    Beteiligte:
    Chang, N. S. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    1990-01-01


    Format / Umfang :

    354 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt


    Klassifikation :

    DDC:    621.381



    Machine vision algorithms for semiconductor wafer inspection: a project with Inspex [3521-25]

    Chen, C.-H. / Cheng, T.-H. / Wu, W.-T. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998


    Alignment and Stacking of Semiconductor Photonic Bandgaps by Wafer-Fusion

    Noda, S. / Yamamoto, N. / Imada, M. et al. | British Library Online Contents | 1999


    Engine installation using machine vision for alignment

    BUCKUS GARY M / TANZINI MICHAEL JOHN | Europäisches Patentamt | 2016

    Freier Zugriff

    Engine installation using machine vision for alignment

    BUCKUS GARY M / TANZINI MICHAEL J | Europäisches Patentamt | 2020

    Freier Zugriff