Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    AV/ADAS Safety-Critical Testing Scenario Generation from Vehicle Crash Data


    Beteiligte:
    Kibalama, Dennis (Autor:in) / Tulpule, Punit (Autor:in) / Chen, Bo-Shian (Autor:in)

    Kongress:

    WCX SAE World Congress Experience



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2022


    Format / Umfang :

    ALL-ALL



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    AV/ADAS Safety-Critical Testing Scenario Generation from Vehicle Crash Data

    Kibalama, Dennis / Tulpule, Punit / Chen, Bo-Shian | British Library Conference Proceedings | 2022


    AV/ADAS Safety-Critical Testing Scenario Generation from Vehicle Crash Data

    Chen, Bo-Shian / Kibalama, Dennis / Tulpule, Punit | SAE Technical Papers | 2022


    Automatic Scenario Generation for Simulation-Based Testing of AD/ADAS

    Hyodo, Akihiko / Akai, Akihito / Shibuya, Kaoru et al. | SAE Technical Papers | 2023


    Automatic Scenario Generation for Simulation-Based Testing of AD/ADAS

    Shibuya, Kaoru / Hyodo, Akihiko / Akai, Akihito et al. | British Library Conference Proceedings | 2023


    Causal Models to Support Scenario-Based Testing of ADAS

    Maier, Robert / Grabinger, Lisa / Urlhart, David et al. | IEEE | 2024

    Freier Zugriff