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    Titel :

    Quantitative Bewertung der Halbleiter-Zuverlässigkeit im automobilen Umfeld


    Beteiligte:
    Jancke, R. (Autor:in) / Sohrmann, C. (Autor:in)

    Kongress:

    Technische Zuverlassigkeit ; 2015 ; Stuttgart, Germany


    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2015


    Format / Umfang :

    12 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch