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    Titel :

    Test Pilot Selection for the Next Generation



    Kongress:

    US Air Force T&E Days Conference ; 2010 ; Nashville, TN



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2010


    Format / Umfang :

    14 pages


    Anmerkungen:

    Includes bibliographical references and index



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :



    Next Generation Test Automation

    Anhalt, Christopher / Tränkle, Frank / Lebert, Klaus | SAE Technical Papers | 2005


    Next Generation Test Automation

    Anhalt, C. / Trankle, F. / Society of Automotive Engineers | British Library Conference Proceedings | 2005


    Next generation test automation

    Anhalt,C. / Lebert,K. / Traenkle,F. et al. | Kraftfahrwesen | 2005


    Next‐Generation Commodity Flow Survey: A Pilot in Singapore

    Taniguchi, Eiichi ;Thompson, Russell G. | Wiley | 2018